سنتز و مشخصه یابی فیزیکی لایه های نازک و نانو ساختارهای اکسید نیکل
thesis
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود - دانشکده فیزیک
- author زهرا شعبان پور
- adviser حسین عشقی
- publication year 1393
abstract
ما در این پایان نامه به مطالعه مورفولوژی، خواص ساختاری، الکتریکی، اپتیکی و فوتورسانایی نمونه های متشکل از نانو ذرات اکسید نیکل خالص و آلایش یافته با لیتیم، مس و کبالت رشد داده شده به روش تجزیه گرمایی افشانه ای پرداخته ایم. برای بررسی مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی به ترتیب از دستگاه های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی، طیف نگاری نوری (uv-vis-nir)، مشخصه یابی i-v و اثر سیبک استفاده کردیم.در نمونه های رشد یافته از پودر کلرید نیکل شش آبه به منظور تهیه محلول لایه نشانی استفاده شده است. پارامترهای مورد بررسی در این تحقیق عبارتند از: حجم محلول، آلایش نمونه ها با اتم های لیتیم (nio:li)، مس (nio:cu) و کبالت (nio:co). تصاویر fesem نمونه ها حاکی از شکل گیری نانو ذرات نسبتاً یکنواخت بر روی سطح زیر لایه هاست. طیف های xrd نمونه ها نشان گر ساختار مکعبی بس بلوری با راستای ترجیحی (111) است. طیف عبوری نمونه ها نشان گر شفاف بودن لایه ها در گستره نور مرئی است که با تغییر شرایط رشد تغییر می یابد. تحلیل این داده ها نشانگر گاف نواری این ماده در بازه 3/2 - ev 3/9 می باشد. مقاومت ورقه ای حاصل از اندازه گیری جریان- ولتاژ تمام نمونه ها در دمای اتاق نسبتا بالا ( از مرتبه ? 106) است. آزمایش اثر سیبک نشان می دهد که نمونه ها دارای رسانندگی نوع-p هستند. با توجه به گاف نواری پهن در این ماده، نمونه ها مورد مطالعه فوتورسانایی قرار گرفت. دریافتیم از این ماده می توان برای آشکارسازی نور فرابنفش استفاده نمود.
similar resources
رشد و مشخصه یابی لایه های نازک اکسید نیکل
ما در این تحقیق تجربی به مطالعه مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی نمونه-های اکسید نیکل خالص و آلایش یافته با در صدهای مختلف مس بر روی زیرلایه شیشه که به روش اسپری پایرولیزیز رشد داده شده اند، پرداخته ایم. آنگاه برای مشخصه یابی نمونه ها از دستگاه-های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی uv.vis، فوتولومینسانس (pl) و اثر هال استفاده کرده ایم. پارامت...
15 صفحه اولمشخصه یابی و بررسی خواص دی الکتریک الکتروسرامیک های نانوبلور پایه اکسید نیکل سنتز شده، به روش آلیاژسازی مکانیکی
پیشرفت روزافزون صنعت میکروالکترونیک، نیازمند ارتقای مواد الکترونیکی پیشرفته از جمله سرامیکهای دیالکتریک با ثابت دیالکتریک بالا برای کاربردهایی نظیر خازنها میباشد. دیالکتریکهای برپایه اکسید نیکل دستهای از این مواد پیشرفته میباشند، که به علت داشتن ثابت دیالکتریک بسیار بالا در محدوده دمایی گسترده، در سالهای اخیر مورد توجه محققان بودهاند. در این پژوهش، سرامیک دیالکتریک Li0.05Ni0.95O ب...
full textرشد و مشخصه یابی لایه های نازک اکسید ایندیوم (in2o3)
در این تحقیق تجربی به بررسی مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی نمونه های اکسید ایندیوم خالص که به روش اسپری پایرولیزیز رشد داده شده اند پرداخته ایم. در این مطالعه برای مشخصه یابی نمونه های رشد یافته از دستگاه های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی uv-vis-nir، فوتولومینسانس (pl) و مشخصه جریان-ولتاژ (i-v) استفاده کرده ایم. در طی این تحقیق به منظ...
15 صفحه اولساخت و مشخصه یابی نانو رنگدانه های Zn1-xCoxO و مشخصه یابی رنگی آنها
انورنگدانه های اکسید روی خالص و آلاییده شده با کبالت به روش شیمیای سل - ژل تهیه شد. سپس برای بررسی خواص ساختاری از نانوپودرها آنالیز پراش پرتوی ایکس (XRD) و آنالیز میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و برای بررسی خواص نوری نانوپودرها آنالیز طیف سنجی مرئی –فرابنفش (UV-vis) مورد بررسی قرار رفت. اندازه نانوبلورکها با استفاده از روش اندازه کرنش (SSP) و آنالیز دادههای XRD مورد مطالعه قرار گرفت و نش...
full textتهیه و مشخصه یابی لایه های نازک نانو ساختار اکسید روی آلاییده شده با مس
در این پژوهش لایه های نازک روی اکسید و روی اکسید آلاییده شده با مس به روش لایه نشانی حمام شیمیایی تهیه شده است. از محلول آبی روی کلرید برای منبع یون های روی، از متن آمین به عنوان عامل کمپلکس دهنده و از مس استات یک آبه به عنوان منبع یون های مس استفاده شده است. لایه ها توسط طیف سنجی مرئی- فرابنفش (uv-vis)، طیف سنجی فوتولومینسانس (pl)، تبدیل فوریه طیف مادون قرمز (ftir)، الگوی پراش پرتو ایکس (xrd)،...
بررسی تاثیر شیوه خشک سازی بر خواص اپتیکی فیلم های نازک نانو ساختاری اکسید نیکل
The nanostructured nickel oxide thin films were prepared by dip coating sol – gel method. Three methods (drying with oven, IR and microwave) have used for drying the films. The effect of drying method on the optical, molecular, electrical, structural, and morphology properties of the films were studied by Uv-Visible spectrophotometry, Fourier Transform Infrared spectroscopy, Hall effect, X-ray ...
full textMy Resources
document type: thesis
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود - دانشکده فیزیک
Keywords
Hosted on Doprax cloud platform doprax.com
copyright © 2015-2023