سنتز و مشخصه یابی فیزیکی لایه های نازک و نانو ساختارهای اکسید نیکل

thesis
abstract

ما در این پایان نامه به مطالعه مورفولوژی، خواص ساختاری، الکتریکی، اپتیکی و فوتورسانایی نمونه های متشکل از نانو ذرات اکسید نیکل خالص و آلایش یافته با لیتیم، مس و کبالت رشد داده شده به روش تجزیه گرمایی افشانه ای پرداخته ایم. برای بررسی مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی به ترتیب از دستگاه های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی، طیف نگاری نوری (uv-vis-nir)، مشخصه یابی i-v و اثر سیبک استفاده کردیم.در نمونه های رشد یافته از پودر کلرید نیکل شش آبه به منظور تهیه محلول لایه نشانی استفاده شده است. پارامترهای مورد بررسی در این تحقیق عبارتند از: حجم محلول، آلایش نمونه ها با اتم های لیتیم (nio:li)، مس (nio:cu) و کبالت (nio:co). تصاویر fesem نمونه ها حاکی از شکل گیری نانو ذرات نسبتاً یکنواخت بر روی سطح زیر لایه هاست. طیف های xrd نمونه ها نشان گر ساختار مکعبی بس بلوری با راستای ترجیحی (111) است. طیف عبوری نمونه ها نشان گر شفاف بودن لایه ها در گستره نور مرئی است که با تغییر شرایط رشد تغییر می یابد. تحلیل این داده ها نشانگر گاف نواری این ماده در بازه 3/2 - ev 3/9 می باشد. مقاومت ورقه ای حاصل از اندازه گیری جریان- ولتاژ تمام نمونه ها در دمای اتاق نسبتا بالا ( از مرتبه ? 106) است. آزمایش اثر سیبک نشان می دهد که نمونه ها دارای رسانندگی نوع-p هستند. با توجه به گاف نواری پهن در این ماده، نمونه ها مورد مطالعه فوتورسانایی قرار گرفت. دریافتیم از این ماده می توان برای آشکارسازی نور فرابنفش استفاده نمود.

similar resources

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک اکسید نیکل

ما در این تحقیق تجربی به مطالعه مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی نمونه-های اکسید نیکل خالص و آلایش یافته با در صدهای مختلف مس بر روی زیرلایه شیشه که به روش اسپری پایرولیزیز رشد داده شده اند، پرداخته ایم. آنگاه برای مشخصه یابی نمونه ها از دستگاه-های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی uv.vis، فوتولومینسانس (pl) و اثر هال استفاده کرده ایم. پارامت...

15 صفحه اول

مشخصه یابی و بررسی خواص دی الکتریک الکتروسرامیک های نانوبلور پایه اکسید نیکل سنتز شده، به روش آلیاژسازی مکانیکی

پیشرفت روزافزون صنعت میکروالکترونیک، نیازمند ارتقای مواد الکترونیکی پیشرفته از جمله سرامیک­های دی­الکتریک با ثابت دی­الکتریک بالا برای کاربردهایی نظیر خازن­ها می­باشد. دی­الکتریک­های برپایه اکسید نیکل دسته­ای از این مواد پیشرفته می­باشند، که به علت داشتن ثابت دی­الکتریک بسیار بالا در محدوده دمایی گسترده، در سال­های اخیر مورد توجه محققان بوده­اند. در این پژوهش، سرامیک­ دی­الکتریک Li0.05Ni0.95O ب...

full text

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک اکسید ایندیوم (in2o3)

در این تحقیق تجربی به بررسی مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی نمونه های اکسید ایندیوم خالص که به روش اسپری پایرولیزیز رشد داده شده اند پرداخته ایم. در این مطالعه برای مشخصه یابی نمونه های رشد یافته از دستگاه های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی uv-vis-nir، فوتولومینسانس (pl) و مشخصه جریان-ولتاژ (i-v) استفاده کرده ایم. در طی این تحقیق به منظ...

15 صفحه اول

ساخت و مشخصه یابی نانو رنگدانه های Zn1-xCoxO و مشخصه یابی رنگی آنها

انو­رنگدانه ­های اکسید روی خالص و آلاییده شده با کبالت به روش شیمیای سل - ژل تهیه شد. سپس برای بررسی خواص ساختاری از نانوپودرها آنالیز پراش پرتوی ایکس (XRD) و آنالیز میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)  و برای بررسی خواص نوری نانوپودرها آنالیز طیف سنجی مرئی –فرابنفش (UV-vis) مورد بررسی قرار رفت. اندازه نانو­بلورک­ها با استفاده از روش اندازه کرنش (SSP) و آنالیز داده­های XRD مورد مطالعه قرار گرفت و نش...

full text

تهیه و مشخصه یابی لایه های نازک نانو ساختار اکسید روی آلاییده شده با مس

در این پژوهش لایه های نازک روی اکسید و روی اکسید آلاییده شده با مس به روش لایه نشانی حمام شیمیایی تهیه شده است. از محلول آبی روی کلرید برای منبع یون های روی، از متن آمین به عنوان عامل کمپلکس دهنده و از مس استات یک آبه به عنوان منبع یون های مس استفاده شده است. لایه ها توسط طیف سنجی مرئی- فرابنفش (uv-vis)، طیف سنجی فوتولومینسانس (pl)، تبدیل فوریه طیف مادون قرمز (ftir)، الگوی پراش پرتو ایکس (xrd)،...

بررسی تاثیر شیوه خشک سازی بر خواص اپتیکی فیلم های نازک نانو ساختاری اکسید نیکل

The nanostructured nickel oxide thin films were prepared by dip coating sol – gel method. Three methods (drying with oven, IR and microwave) have used for drying the films. The effect of drying method on the optical, molecular, electrical, structural, and morphology properties of the films were studied by Uv-Visible spectrophotometry, Fourier Transform Infrared spectroscopy, Hall effect, X-ray ...

full text

My Resources

Save resource for easier access later

Save to my library Already added to my library

{@ msg_add @}


document type: thesis

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود - دانشکده فیزیک

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com

copyright © 2015-2023